物理性・物理量测定机器
膜厚计 THICKNESS METER 膜厚計 SWT9000ⅡFNAS-81-0256-01
膜厚计 THICKNESS METER 膜厚計SWT9000ⅡFN
特点
- 显示的数字大，容易查看。
规格
- 测定方式：铁／电磁感应式、非铁／涡电流式
- 测定范围：铁／0～2.5mm、非铁／0～2.0mm
- 最小分辨率：0～400*μm*／最小0.1*μm*显示、400～500*μm*／最小0.5*μm*、500～999*μm*／最小1*μm*、1.0～2.5mm／最小0.01mm显示
- 精度：±2%以内
- 显示：图形LCD
- 功能：高温（表面温度250℃）・连续测定
- 耐热温度：探头顶端／200～250℃、连接线／150℃
- 电源：5号干电池×2节（附带）
- 尺寸：主体／72×30×156mm、探头线长／900mm
- 重量：主体／200g、探头／70g
厚度计 SWT9000ⅡFN THICKNESS METER膜厚计 膜厚計
检测仪器|||物理性・物理量测定机器
※目录刊载页: 易购安实验用仪器・耗材目录6000号 226页
※目录刊载页: 易购安实验用仪器・耗材目录6000号 226页
商品属性膜厚計 THICKNESS METER SWT9000ⅡFN
| 商品属性 | |
|---|---|
| 商品名称 | 膜厚计 THICKNESS METER 膜厚計 厚度计 SWT9000ⅡFN |
| 商品编号 | 81-0256-01 |
| 商品型号 | SWT9000ⅡFN |
| 商品规格 | － |
| 商品分类 | 检测仪器|||物理性・物理量测定机器 ※目录刊载页: 易购安实验用仪器・耗材目录6000号 226页 |
| 商品简介 |
|
| 商品特点 |
|
※主机不帯探头（另售）
相关商品膜厚计 膜厚計 THICKNESS METER
| 编号 | 型号 | 测定对象 | 规格 | 库存 | 报价 | 备考 |
| 81-0256-01 | SWT9000ⅡFN | － | 主体 | 联系我们 | 咨询价格 | |
| 81-0256-11 | FE2.5 | 铁 | 探头 | 联系我们 | 咨询价格 | |
| 81-0256-12 | NFE2.0 | 非铁 | 探头 | 联系我们 | 咨询价格 | |
| 81-0256-13 | FN-325 | 铁・非铁两用 | 探头 | 联系我们 | 咨询价格 |
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